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Índice i10 | 145 | 126 |
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Coautores
- Travis J. AndersonNaval Research LaboratoryE-mail confirmado em nrl.navy.mil
- Andrew D. KoehlerNaval Research LaboratoryE-mail confirmado em nrl.navy.mil
- Stephen PeartonProfessor of Materials Science and Engineering, University of FloridaE-mail confirmado em mse.ufl.edu
- Fan RenUniversity of Florida, Bell Lab, AT&TE-mail confirmado em che.ufl.edu
- C.R. Eddy, Jr.Office of Naval Research Global - LondonE-mail confirmado em nrl.navy.mil
- Michael MastroUS Naval Research LabE-mail confirmado em nrl.navy.mil
- Francis KubNaval Research LaboratoryE-mail confirmado em ieee.org
- Jiancheng Yang. PhDKeysight TechnologiesE-mail confirmado em keysight.com
- Joshua D. CaldwellVanderbilt UniversityE-mail confirmado em vanderbilt.edu
- Patrick H Carey IVUniversity of FloridaE-mail confirmado em ufl.edu
- Jihyun KimSeoul National UniversityE-mail confirmado em snu.ac.kr
- Chaker FaresPhD. Student, University of FloridaE-mail confirmado em ufl.edu
- Nadeemullah MahadikNaval Research LaboratoryE-mail confirmado em nrl.navy.mil
- Alan G. JacobsNaval Research LaboratoryE-mail confirmado em cornell.edu
- Boris Feigelson and Boris FeygelsonU.S. Naval Research LaboratoryE-mail confirmado em nrl.navy.mil
- Minghan XianMicron Technology; University of Florida; University of DelawareE-mail confirmado em ufl.edu
- M. GoorskyUniversity of California, Los AngelesE-mail confirmado em seas.ucla.edu
- Jordan GreenleeMicron TechnologyE-mail confirmado em gatech.edu
- Yuhao ZhangCPES, Virginia TechE-mail confirmado em vt.edu
- Samuel GrahamUniversity of MarylandE-mail confirmado em umd.edu