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Coautores
- Olivier J.F. MartinProfessor of Nanophotonics & Optical Signal Processing, EPFLE-mail confirmado em epfl.ch
- Butet Jérémypost-doc, EPFLE-mail confirmado em epfl.ch
- Juergen BruggerProfessor of Microengineering (EPFL)E-mail confirmado em epfl.ch
- Valentin FlauraudEPFL LausanneE-mail confirmado em photovf.com
- Massimo MastrangeliAssociate Professor, Delft University of TechnologyE-mail confirmado em tudelft.nl
- Chen YanNanophotonics and Metrology Laboratory, Swiss Federal Institute of Technology Lausanne (EPFL)E-mail confirmado em epfl.ch
- Kuang-Yu YangEPFLE-mail confirmado em epfl.ch
- T. V. RazimanImperial College LondonE-mail confirmado em imperial.ac.uk
- Christophe MoserProfessor of Microengineering, EPFLE-mail confirmado em epfl.ch
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Gabriel D. Bernasconi
Nanophotonics and Metrology Laboratory, Swiss Federal Institute of Technology Lausanne
E-mail confirmado em epfl.ch