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Coautores
- Jan VerspechtResearch Engineer, Keysight Technologies, Inc.E-mail confirmado em janverspecht.com
- Nicholas TufillaroTuataraE-mail confirmado em aquahue.net
- Dominique SchreursProf. in EE, KU LeuvenE-mail confirmado em kuleuven.be
- Lee BarfordFellow, Keysight TechnologiesE-mail confirmado em keysight.com
- Christian FagerChalmers University of TechnologyE-mail confirmado em chalmers.se
- patrick roblinThe Ohio State UniversityE-mail confirmado em osu.edu
- Jonathan B Scottuniversity of waikatoE-mail confirmado em ieee.org
- Jean-Pierre TeyssierProfessor of RF Electronics, Limoges UniversityE-mail confirmado em keysight.com
- Anthony ParkerMacquarie UniversityE-mail confirmado em ieee.org
- Paul Juan TaskerCornell, Freiburg, Cardiff, VigoE-mail confirmado em cf.ac.uk
- Haedong JangThe Ohio State UniversityE-mail confirmado em osu.edu
- Tibault ReveyrandCNRS Engineer, XLIME-mail confirmado em xlim.fr
- Jonny Leescardiff universityE-mail confirmado em cardiff.ac.uk