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Coautores
- Alper KozCenter for Image Analysis, Middle East Technical University, Ankara, TurkeyE-mail confirmado em metu.edu.tr
- Ersin EsenEsen Information TechnologiesE-mail confirmado em esenbil.com
- Erhan GundogduAmazonE-mail confirmado em amazon.com
- Ali N. AkansuProfessor of Electrical & Computer Engineering, NJIT, Newark NJ, USAE-mail confirmado em njit.edu
- Medeni SoysalTÜBİTAK Space Technologies Research InstituteE-mail confirmado em tubitak.gov.tr
- Thomas SikoraProfessor Technische Universitaet BerlinE-mail confirmado em nue.tu-berlin.de
- Xenophon ZabulisResearcher, Foundation of Research and TechnologyE-mail confirmado em ics.forth.gr
- Evren İmreCVSSP, University of SurreyE-mail confirmado em surrey.ac.uk
- H. Emrah TaşlıUVAE-mail confirmado em uva.nl
- Burak OzkalayciPhD StudentE-mail confirmado em metu.edu.tr
- Uğur GüdükbayDepartment of Computer Engineering, Bilkent University, Ankara, TurkeyE-mail confirmado em cs.bilkent.edu.tr
- Aykut KocAssistant Professor Bilkent UniversityE-mail confirmado em bilkent.edu.tr
- Ertem TuncelProfessor of Electrical EngineeringE-mail confirmado em ee.ucr.edu
- Sebastian KnorrProfessor at HTW BerlinE-mail confirmado em htw-berlin.de
- Jörn OstermannProfessor | Fellow IEEE | L3S | Leibniz Universität HannoverE-mail confirmado em tnt.uni-hannover.de
- Berker LogogluKuartisE-mail confirmado em kuartis.com
- Ozan SenerAppleE-mail confirmado em cs.stanford.edu
- Akin CaliskanResearch Scientist, FlawlessAIE-mail confirmado em flawlessai.com
- Kemal UgurNokia Research CenterE-mail confirmado em nokia.com
- Engin TuretkenSenior Expert in Vision and AI at CSEME-mail confirmado em alumni.epfl.ch
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A. Aydin Alatan
Dept. of EE Eng., Center for Image Analysis (OGAM), METU
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