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Coautores
- Paulo S R DinizProfessor of Electrical Engineering, Universidade Federal do Rio de JaneiroE-mail confirmado em smt.ufrj.br
- Markus LimaFederal University of Rio de JaneiroE-mail confirmado em smt.ufrj.br
- Wallace A. MartinsFull Professor | ISAE-SUPAERO, Université de ToulouseE-mail confirmado em isae-supaero.fr
- Sergio L. NettoFederal University of Rio de JaneiroE-mail confirmado em smt.ufrj.br
- Leni Joaquim De MatosUniversdade Federal FluminenseE-mail confirmado em id.uff.br
- Vanessa Przybylski Ribeiro MagriUniversidade Federal Fluminense E-mail confirmado em id.uff.br
- Marcele Oliveira Kuhfuss de MendonçaResearch Associate, Snt, University of LuxembourgE-mail confirmado em uni.lu
- Vinicius Nunes Henrique SilvaProfessor Doutor de Engenharia de Telecomunicações, Universidade Federal FluminenseE-mail confirmado em id.uff.br
- Diogo Menezes Ferrazani MattosDepartamento de Engenharia de Telecomunicações - Universidade Federal Fluminense (UFF)E-mail confirmado em midiacom.uff.br
- Luiz Anet NetoIMT AtlantiqueE-mail confirmado em imt-atlantique.fr
- Flávio SampaioOrange InnovationE-mail confirmado em id.uff.br
- Maurício Weber Benjó da SilvaFluminense Federal UniversityE-mail confirmado em id.uff.br
- Roberto Brauer Di RennaAdjunct Professor at UFFE-mail confirmado em id.uff.br
- Maurício do Vale Madeira da CostaReseacher - Osnabrück UniversityE-mail confirmado em uni-osnabrueck.de
- Pedro Vladimir Gonzalez CastellanosUniversidade Federal FluminenseE-mail confirmado em id.uff.br
- Leonardo NunesMicrosoftE-mail confirmado em microsoft.com
- Bowon LeeInha UniversityE-mail confirmado em inha.ac.kr
- Daniel VidalUniversidade de São PauloE-mail confirmado em usp.br
- Marcello CamposProfessor of Electrical Engineering, Federal University of Rio de JaneiroE-mail confirmado em smt.ufrj.br
- Thiago Elias Bitencourt CunhaPhD Researcher at Eindhoven University of TechnologyE-mail confirmado em tue.nl