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Índice h | 21 | 17 |
Índice i10 | 28 | 21 |
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Coautores
- Congcong WangPh.D student of Materials Science, University of RochesterE-mail confirmado em ur.rochester.edu
- Irfan AhmadCoordinator at Alien Tech Transfer; PhD Physics Uo Rochester; Ex Scientist SF Bay AreaE-mail confirmado em pas.rochester.edu
- Qifan YanEast China University of Science and TechnologyE-mail confirmado em ecust.edu.cn
- Julia ReinspachStanford UniversityE-mail confirmado em stanford.edu
- Harald AdeGoodnight Innovation Dist. Prof., North Carolina State UniversityE-mail confirmado em ncsu.edu
- Holloway PHDistinguished ProfessorE-mail confirmado em mse.ufl.edu
- Krishna AcharyaSavannah River National LaboratoryE-mail confirmado em srnl.doe.gov
- Marc RamuzEcole Nationale Supérieure des Mines de Saint-Etienne, CMPE-mail confirmado em emse.fr
- Yingpeng Wu美国斯坦福大学化学系E-mail confirmado em stanford.edu
- Yi CuiStanford UniversityE-mail confirmado em stanford.edu
- Lu Lyu (Lu Lv, 吕路)Technische Universität KaiserslauternE-mail confirmado em rhrk.uni-kl.de
- Wei Xia, Ph.D.Samsung Austin Semiconductor; University of Rochester; Chinese Academy of Sciences;E-mail confirmado em samsung.com
- Xing Sheng (盛兴)Electronic Engineering, Tsinghua UniversityE-mail confirmado em tsinghua.edu.cn
- Ching W. TangInstitute for Advanced Study, Hong Kong University of Science and TechnologyE-mail confirmado em rochester.edu
- Cong FuTUV SUD
- Lai WangDepartment of Electronic Engineering, Tsinghua University, 100084 Beijing, ChinaE-mail confirmado em tsinghua.edu.cn