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Índice i10 | 236 | 83 |
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Coautores
- G J ShifletProfessor of Materials Science, University of VirginiaE-mail confirmado em virginia.edu
- Terry TrittProfessor of Physics, Clemson UniversityE-mail confirmado em g.clemson.edu
- William L. JohnsonCalifornia Institute of TechnologyE-mail confirmado em caltech.edu
- Takeshi EgamiProfessor of Materials Science and Physics, University of TennesseeE-mail confirmado em utk.edu
- Jack SimonsonFarmingdale State CollegeE-mail confirmado em farmingdale.edu
- Wenjie XieTechnische Universität DarmstadtE-mail confirmado em mr.tu-darmstadt.de
- SA WolfUniversity of VirginiaE-mail confirmado em virginia.edu
- Despina LoucaProfessor of Physics, University of VirginiaE-mail confirmado em virginia.edu
- Jian HeClemson UniversityE-mail confirmado em clemson.edu
- Mircea R. StanVirginia Microelectronics Consortium (VMEC) Professor, University of VirginiaE-mail confirmado em virginia.edu
- J GopalakrishnanSolid State and structural Chemistry Unit, Indian Institute of Science, Bangalore, IndiaE-mail confirmado em iisc.ac.in
- Di WuShaanxi Normal University/Southern University of Science and Technology/University of VirginiaE-mail confirmado em snnu.edu.cn
- Eugene ChenSamsung, Grandis, Cypress Semiconductor, Motorola, NVEE-mail confirmado em samsung.com
- Xinfeng Tang (唐新峰)Wuhan University of TechnologyE-mail confirmado em whut.edu.cn
- Dmytro ApalkovSr. Principal Engineer/Sr. Director, Modeling, Samsung Semiconductor R&DE-mail confirmado em samsung.com
- anke weidenkaffTU DarmstadtE-mail confirmado em mr.tu-darmstadt.de
- Rama VenkatasubramanianJohns Hopkins University Applied Physics LabE-mail confirmado em jhuapl.edu
- Jiwei LuAFOSR