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Coautores
- Stefano MaciDipartimento di Ingegneria dell'Informazione e Scienze Matematiche, University of SienaE-mail confirmado em dii.unisi.it
- Nader EnghetaH. Nedwill Ramsey Professor, University of PennsylvaniaE-mail confirmado em seas.upenn.edu
- Enrica MartiniUniversity of SienaE-mail confirmado em dii.unisi.it
- matteo albaniUniversity of SienaE-mail confirmado em unisi.it
- Yue LiAssociate Professor, Department of Electronic Engineering, Tsinghua University, Beijing, ChinaE-mail confirmado em seas.upenn.edu
- Xingchen YeIndiana University BloomingtonE-mail confirmado em indiana.edu
- Christopher B. MurrayProfessor of Chemistry and Materials Science and EngineeringE-mail confirmado em sas.upenn.edu
- Iñigo LiberalUniversidad Publica de NavarraE-mail confirmado em unavarra.es
- Valerio VignoliProfessore di Elettronica, Università di SienaE-mail confirmado em unisi.it
- Tommaso AddabboAssociate Professor, University of SienaE-mail confirmado em dii.unisi.it
- Marco MugnainiAssociate Professor University of SienaE-mail confirmado em dii.unisi.it
- Raj MittraProfessor, Penn State UniversityE-mail confirmado em ieee.org
- Giuseppe VecchiPolitecnico di TorinoE-mail confirmado em polito.it
- Massimiliano CasalettiAssociate Professor - Sorbonne Universités UPMC, ParisE-mail confirmado em upmc.fr
- Filippo CapolinoUniversity of California, IrvineE-mail confirmado em uci.edu
- Alessandro GarufoTNO Defense Security and SafetyE-mail confirmado em tno.nl
- Mário SilveirinhaProfessor of Electrical Engineering, University of Lisbon, PortugalE-mail confirmado em tecnico.ulisboa.pt
- Danilo ErricoloProfessor, University of Illinois Chicago; Chair, IEEE AP-S Meetings CommitteeE-mail confirmado em uic.edu
- Artur DavoyanUniversity of California, Los AngelesE-mail confirmado em seas.ucla.edu