Obter meu próprio perfil
Citado por
Todos | Desde 2019 | |
---|---|---|
Citações | 1404 | 1146 |
Índice h | 10 | 7 |
Índice i10 | 10 | 6 |
Acesso público
Ver todos7 artigos
1 artigo
disponível
não disponível
Com base nas autorizações de financiamento
Coautores
- Andreas F. MolischProfessor of Electrical Engineering, University of Southern CaliforniaE-mail confirmado em usc.edu
- Shengqian HanBeihang University (BUAA)E-mail confirmado em buaa.edu.cn
- Vishnu V RatnamStaff Research Engineer 2, Samsung Research AmericaE-mail confirmado em samsung.com
- Linsheng LiHuawei FinlandE-mail confirmado em huawei.com
- Katsuyuki HanedaAssociate Professor, Department of Electronics and Nanoengineering, Aalto UniversityE-mail confirmado em aalto.fi
- Seun SangodoyinAssistant Professor, ECE, Georgia Institute of TechnologyE-mail confirmado em gatech.edu
- Chenwei WangPrincipal Research Engineer, DOCOMO Innovations Inc., Palo Alto, CaliforniaE-mail confirmado em uci.edu
- Ozgun Y. BursaliogluDocomo InnovationsE-mail confirmado em docomoinnovations.com
- Giuseppe CaireProfessor, Technical University of Berlin, Germany, and Professor of Electrical Engineering (onE-mail confirmado em tu-berlin.de
- Nadisanka RupasingheSamsung Research AmericaE-mail confirmado em samsung.com
- Hao FengIntel LabsE-mail confirmado em intel.com
- Pan TangBeijing University of Posts and TelecommunicationsE-mail confirmado em bupt.edu.cn
- Bas, Umit CelalettinAppleE-mail confirmado em usc.edu