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Coautores
- Kailash GopalakrishnanIBME-mail confirmado em us.ibm.com
- Naigang WangIBM T. J. Watson Research Center (nwang@us.ibm.com)E-mail confirmado em us.ibm.com
- Nuo XuTSMC; Samsung; IMEC; Synopsys; UC BerkeleyE-mail confirmado em eecs.berkeley.edu
- Jinfeng Kang北京大学集成电路学院教授E-mail confirmado em pku.edu.cn
- Clement Mercklingimec / KU LeuvenE-mail confirmado em imec.be
- Jungwook ChoiHanyang UniversityE-mail confirmado em hanyang.ac.kr
- Xiaodong CuiPrincipal Research Scientist, IBM T. J. Watson Research CenterE-mail confirmado em us.ibm.com
- Swagath VenkataramaniResearch Staff Member, IBM T.J. Watson Research Center / Purdue Univ.E-mail confirmado em ibm.com
- K.S. Chang-LiaoNational Tsing Hua UniversityE-mail confirmado em ess.nthu.edu.tw
- Tomás PalaciosMITE-mail confirmado em mit.edu
- Enxia ZhangUniversity of Central FloridaE-mail confirmado em ucf.edu
- Alireza AlianimecE-mail confirmado em imec.be
- Guy BrammertzResearcher, imec-imomecE-mail confirmado em imec.be
- Zuoguang LiuIBM Thomas J. Watson Research CenterE-mail confirmado em us.ibm.com
- Yuhao ZhangCPES, Virginia TechE-mail confirmado em vt.edu