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Citações | 2827 | 2033 |
Índice h | 27 | 24 |
Índice i10 | 36 | 36 |
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Coautores
- qian miaoThe Chinese University of Hong KongE-mail confirmado em cuhk.edu.hk
- Norbert KochInstitut für Physik & IRIS Adlershof, Humboldt-Universität zu Berlin and Helmholtz-Zentrum BerlinE-mail confirmado em physik.hu-berlin.de
- Kenjiro FukudaThin-Film Device Laboratory, RIKENE-mail confirmado em riken.go.jp
- Takao SomeyaProfessor, Department of Electric and Electronic Engineering, The University of TokyoE-mail confirmado em ee.t.u-tokyo.ac.jp
- Thorsten SchultzHelmholtz-Zentrum BerlinE-mail confirmado em helmholtz-berlin.de
- Jian-Bin XU (许建斌, J.B. XU)Professor of Electronic Engineering, The Chinese University of Hong KongE-mail confirmado em ee.cuhk.edu.hk
- Hui-Ming ChengShenyang National Laboratory for Materials Science, Institute of Metal Research, CASE-mail confirmado em imr.ac.cn
- Soohyung ParkKorea Institute of Science and TechnologyE-mail confirmado em kist.re.kr
- Wenping HuProfessor of Chemistry, Institute of Chemistry, CASE-mail confirmado em iccas.ac.cn
- ni zhaoThe Chinese University of Hong KongE-mail confirmado em ee.cuhk.edu.hk
- Guangmin ZhouTsinghua SIGSE-mail confirmado em alum.imr.ac.cn
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Xiaomin Xu
Associate Professor, Shenzhen International Graduate School (SIGS), Tsinghua University
E-mail confirmado em sz.tsinghua.edu.cn