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Coautores
- Abhishek DubeyVanderbilt UniversityE-mail confirmado em vanderbilt.edu
- Gabor KarsaiVanderbilt UniversityE-mail confirmado em vanderbilt.edu
- Charles HartsellVanderbilt UniversityE-mail confirmado em vanderbilt.edu
- Zahra RahimiNasabPhD student, Nanyang Technological UniversityE-mail confirmado em e.ntu.edu.sg
- Arvind EaswaranNanyang Technological University (NTU)E-mail confirmado em ntu.edu.sg
- Baiting LuoVanderbilt UniversityE-mail confirmado em vanderbilt.edu
- Taylor T JohnsonAssociate Professor, Electrical Engineering and Computer Science (EECS), Vanderbilt UniversityE-mail confirmado em vanderbilt.edu
- Xenofon KoutsoukosVanderbilt UniversityE-mail confirmado em vanderbilt.edu
- Christopher KuhnSureel Inc, TUME-mail confirmado em tum.de
- Arun RamamurthyResearch Scientist, Siemens CorporationE-mail confirmado em siemens.com
- Hyunjee JinResearch Scientist, SiemensE-mail confirmado em siemens.com
- Ayan MukhopadhyayVanderbilt UniversityE-mail confirmado em vanderbilt.edu
- Partha PalBBN TechnologiesE-mail confirmado em raytheon.com
- Ted BaptyVanderbilt UniversityE-mail confirmado em isis.vanderbilt.edu