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Índice h | 19 | 16 |
Índice i10 | 43 | 25 |
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Coautores
- Xingji LiHarbin Institute of TechnologyE-mail confirmado em hit.edu.cn
- Hsu-Sheng Tsai (蔡勖升)Harbin Institute of TechnologyE-mail confirmado em hit.edu.cn
- Kenneth GallowayVanderbilt UniversityE-mail confirmado em vanderbilt.edu
- Daniel M. FleetwoodProfessor of Electrical Engineering, Vanderbilt UniversityE-mail confirmado em vanderbilt.edu
- Shengqiang ZhouHelmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf, GermanyE-mail confirmado em hzdr.de
- Ron SchrimpfProfessor of Electrical Engineering, Vanderbilt UniversityE-mail confirmado em vanderbilt.edu
- Mao WangHelmholtz-Zentrum Dresden-RossendorfE-mail confirmado em hzdr.de
- Zhenping WuBeijing University of Posts and TelecommunicationsE-mail confirmado em bupt.edu.cn
- Ye YuanSongshan Lake Materials LaboratoryE-mail confirmado em sslab.org.cn
- Yufang XieJiangsu universityE-mail confirmado em ujs.edu.cn
- Chi XuHelmholtz-Zentrum Dresden-RossendorfE-mail confirmado em hzdr.de
- xin zhouUniversity of Electronic Science and Technology of ChinaE-mail confirmado em uestc.edu.cn
- Lei ShuPerKing UniversityE-mail confirmado em hit.edu.cn
- Yonder BerencénHelmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf (HZDR), GermanyE-mail confirmado em hzdr.de