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Coautores
- Geok Ing NgNanyang Technological UniversityE-mail confirmado em ntu.edu.sg
- Subramaniam ArulkumaranTemasek Laboratories@NTU, Nanyang Technological UniversityE-mail confirmado em ntu.edu.sg
- Vicknesh SahmuganathanApplied Materials South East Asia Pte LtdE-mail confirmado em amat.com
- Zhihong LiuXidian University, ChinaE-mail confirmado em xidian.edu.cn
- Abhinay SandupatlaIMECE-mail confirmado em e.ntu.edu.sg
- Sudhiranjan TripathyAgency for Science, Technology, and Research (A*STAR-IMRE, Singapore)E-mail confirmado em imre.a-star.edu.sg
- Dr. John V KennedyPrincipal Scientist, GNS Science,E-mail confirmado em gns.cri.nz
- MANOJ KUMAR CHANDRA MOHANChonnam National University, South KoreaE-mail confirmado em ntu.edu.sg
- Hiroshi AMANO (天野 浩)Nagoya University (名古屋大学)E-mail confirmado em nuee.nagoya-u.ac.jp
- Yoshio HondaNagoyaE-mail confirmado em nuee.nagoya-u.ac.jp
- Servin RathiResearch FellowE-mail confirmado em ucl.ac.uk
- Tomás PalaciosMITE-mail confirmado em mit.edu
- Siddharth RajanElectrical and Computer Engineering, Ohio State UniversityE-mail confirmado em ece.osu.edu
- Kuldeep TakharMicron Technology Singapore, IIT BombayE-mail confirmado em iitb.ac.in
- BINIT SYAMALNTU SINGAPOREE-mail confirmado em ntu.edu.sg