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Coautores
- Luci PirmezPesquisador do PPGI Universidade Federal do Rio de JaneiraE-mail confirmado em nce.ufrj.br
- Raphael MachadoInmetroE-mail confirmado em inmetro.gov.br
- Flavia DelicatoAssociate Professor at the Fluminense Federal UniversityE-mail confirmado em ic.uff.br
- Davidson BoccardoHospital Israelita Albert EinsteinE-mail confirmado em einstein.br
- Paulo F. PiresDell Technologies & Associate Professor of Computer Science, Fluminense Federal University (UFF)E-mail confirmado em dell.com
- Claudio Miceli de FariasProfessor at Instituto Tércio Paccitti de Pesquisas e Aplicações Computacionais and Programa deE-mail confirmado em cos.ufrj.br
- Charles PradoNational Institute of Metrology, Quality and TechnologyE-mail confirmado em inmetro.gov.br
- Wilson S. Melo JrResearcher at the Brazilian National Institute of Metrology, Quality, and Technology (Inmetro)E-mail confirmado em inmetro.gov.br
- Alan Oliveira de SáLASIGE, Departamento de Informática, Faculdade de Ciências, Universidade de LisboaE-mail confirmado em di.fc.ul.pt
- Igor Leão dos SantosProfessor, CEFET-RJE-mail confirmado em cefet-rj.br
- José F. de RezendeUniversidade Federal do Rio de JaneiroE-mail confirmado em land.ufrj.br
- Alysson BessaniLASIGE, Dep. de Informática, Faculdade de Ciências da Universidade de LisboaE-mail confirmado em ciencias.ulisboa.pt
- Silvana RossettoUniversidade Federal do Rio de JaneiroE-mail confirmado em dcc.ufrj.br
- Roberta Lima GomesUniversidade Federal do Espírito SantoE-mail confirmado em inf.ufes.br
- Rafael de Oliveira CostaFederal Institute of Rio de Janeiro (IFRJ)E-mail confirmado em cos.ufrj.br
- Fábio ProttiFull Professor, Fluminense Federal UniversityE-mail confirmado em ic.uff.br
- Rosembergue Pereira de SouzaInstituto Nacional de Metrologia, Qualidade e TecnologiaE-mail confirmado em ppgi.ufrj.br
- Pierre de Saqui-SannesISAE-SUPAEROE-mail confirmado em isae-supaero.fr
- Dhananjay AnandJHU, NISTE-mail confirmado em jh.edu
- Victoria Yan PillitteriNISTE-mail confirmado em nist.gov